产品介绍
WKFI-MT12/16是维勘科技自主研发的自动对焦、自动校准、非接触式光纤端面干涉仪，采用白光和红光干涉原理，还原光纤端面的几何形貌并精确计算各项技术参数，是您测量MPO/MTP连接器的最佳选择和理想伙伴，同时兼容FC、SC、ST、LC、MU等单芯连接器的测量。
强大的测量功能
选用高端光学显微系统、超清晰的高速相机，可测量12X芯或16X芯的MPO/MTP连接器，最多测量高达72芯，助您测量未来应用于200G或400G的产品。
自动对焦、自动识别端面面型
先进高效的自动对焦?？?，自动识别端面面型并从最佳位置开始扫描，无需任何硬件调整即可完成测量。
完美的3D图像
通过拖动鼠标可轻易掌握任意位置的光纤剖面及3D图像，方便用户直观了解产品端面研磨状况并进行工艺改进。
稳定且高速的数据传输
紧固式的USB3.0接口，极大地提高了测试的稳定性及抗震性，在任何情况下都拥有稳定而高速的数据传输。
丰富的夹具
采用精密PIN针定位，保证每次插拔测量无需重新对焦，大大提高测试效率，并具有很高的复现性。
完善的数据和报表
一键操作即可自动生成测量数据及报告，便于用户进行归档管理。
性能指标
|
多 |
测量项目 |
单位 |
测量范围 |
重复性 |
复现性 |
|
曲率半径 |
mm |
3～∞ |
1% |
3% |
|
|
端面角度 |
° |
0或8 |
0.01 |
0.02 |
|
|
光纤高度 |
m |
0～8 |
0.015 |
0.025 |
|
|
测量速度 |
sec |
10-20 |
|||
|
单 |
曲率半径 |
m |
3～∞ |
0.1% |
0.2% |
|
光纤高度 |
nm |
±160 |
1 |
2 |
|
|
顶点偏移 |
m |
<500 |
0.2 |
1.5 |
|
|
APC角度 |
° |
0～8 |
0.01 |
0.015 |
|
|
测量速度 |
sec |
0.4 |
|||
|
仪 器 配 置 |
物镜倍率 |
|
2X |
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|
分辨率 |
μm |
2.6 |
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|
光源 |
|
红光+白光 |
|||
|
电源 |
|
220V/50Hz |
|||
